专利名称:   一种大口径光学元件面形检测装置及检测图像畸变校正方法
英文名称:  
专利号:   CN115127473A
专利类别:  
专利证书号:  
申请号:   CN202210610659.3
第一发明人:   中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日期:   2022-05-31
专利授权日期:   -
国外申请日期:  
国外申请方式:  
缴费情况:  
实施情况:  
专利摘要:  
其它备注:  
   

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