专利名称:   一种光学元件激光损伤阈值测试中损伤点识别方法
英文名称:  
专利号:   CN112017157A
专利类别:  
专利证书号:  
申请号:   CN202010704910.3
第一发明人:   中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日期:   2020-07-21
专利授权日期:   2020-12-01
国外申请日期:  
国外申请方式:  
缴费情况:  
实施情况:   审中
专利摘要:  
其它备注:  
   

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